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Hybrid multiple diffraction in semipolar wurtzite materials: (\bf 01\overline{1}2)-oriented ZnMgO/ZnO heterostructures as an illustration
2017
X-ray diffraction has been widely used to characterize the structural properties (strain and structural quality) of semiconductor heterostructures. This work employs hybrid multiple diffraction to analyzer-oriented Zn1−xMgxO layers grown by molecular beam epitaxy on ZnO substrates. In such a low-symmetry material system, additional features appear in symmetric reflection scans, which are described as arising from hybrid multiple diffraction. First, the Bragg conditions necessary for these high-order processes to occur are introduced and applied to explain all the observed satellite reflections, identify the planes that contribute and computea priorithe angles at which they are observed. Fur…
Crystal growth and characterization of Zn1-xMgxO advanced micro- and nanostructures
2018
Dentro de la creciente área de investigación de la física de semiconductores, los pertenecientes a la familia II-VI se han convertido en un campo fundamental de la física de materiales debido a que sus propiedades fotofísicas son únicas para crear una nueva generación de dispositivos en el campo de la fotónica y la microelectrónica. Entre ellos, los semiconductores basados en ZnO han ganado un considerable interés en la comunidad científica en parte debido a su alta energía de enlace del excitón (60 meV) la cual es 2.4 veces más alta que la energía térmica a temperatura ambiente. Este hecho puede dar lugar a emisión laser excitónica a temperaturas incluso mayores que la ambiente. Además, gr…